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磁随机存储器

磁随机存储器

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磁随机存储器

磁随机存储器(magnetic random access memory,简称MRAM)是一种利用磁电阻效应存储数据的非易失性存储器,通过磁隧道结(MTJ)的磁化方向差异记录二进制数据。该技术于1995年实现室温隧穿磁阻效应突破,2007年IBM与TDK合作开发出自旋转移矩(STT)写入技术,第二代STT-MRAM采用自旋极化电流实现电学写入 。

MRAM具有高速读写(2.3纳秒)、无限次擦写、低功耗(比DRAM低50%-80%)特性,支持垂直磁各向异性结构提升存储密度 。台积电开发22nm制程STT-MRAM和SOT-MRAM技术,三星推出14nm节点存内计算芯片,恩智浦计划2025年量产16nm车用嵌入式MRAM样品 。其核心元件为三明治结构磁性隧道结,采用隧穿磁阻效应实现数据存取,现应用于人工智能存算一体架构、航天电子设备和汽车OTA系统 。

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