您的位置首页百科知识

PSM(相移法)

PSM(相移法)

的有关信息介绍如下:

PSM(相移法)

相移法(PSM)是由F. Dushinshy提出的光谱分析技术,通过检测荧光信号相对于正弦调制光源的相位延迟θ或调制幅度m来计算荧光寿命τ,其光源函数为R(t)=R0[1+αcos(ωt)],满足tanθ=ωτ和m=(1+ω²τ²)(-1/2)。该方法适用于单指数衰减体系,在同步辐射光源中可实现亚皮秒级寿命测量 。

针对多指数衰减分析的局限性,Gratton和Lopez-Delgado提出采用高重复频率脉冲光源进行傅里叶成分扩展。相较于单光子计数法(SPC),相移法在低光强下灵敏度较低,但无需去卷积处理即可达到皮秒级时间分辨率;当信号强度在两个量级范围内变化时,相移法检测仍保持线性响应,而SPC可在三个量级内维持线性 。该方法曾应用于同步辐射装置,但无法直接观察光谱变化 。

想要了解更多“PSM(相移法)”的信息,请点击:PSM(相移法)百科